本文標題："了解顯微技術中的剪切力反饋模式"

發布者：YIYI ------ 分類: 技術文章 ------ 人瀏覽過 -----時間：2014-4-28 10:43:15

了解顯微技術中的剪切力反饋模式

剪切力反饋模式是指將頻率振蕩的探針接近試樣外面的時候，振蕩的針尖跟試
樣之間所存在的作用力，這時振蕩的幅度跟相位都會產生很大的變化，可以將
探針限制在5納米到20納米范圍之間，剪切力反饋模式不需要參考激光的介入，
它是一種非光學的距離調控方式，可以使光學所成的圖像具有更高的真實性，
Zhu.Huang等一些人所研究并發明的超聲共振式主要采用的就是剪切力反饋模式
，蔡薇跟其它一些學者應用并發明這個方法，因此提出可雙壓電陶瓷片的反射
式，然而針尖跟試樣之間剪切力的作用機制的研究，是經過采用濕度不一樣和
介質不一樣的條件下量測的音叉微電流跟探針與試樣之間距離的曲線來證明。

后一篇文章：光學顯微鏡下可以觀測到細胞的哪些結構 »
前一篇文章：« 金相試樣化學拋光

tags:顯微鏡百科,生物顯微鏡,精密儀器,

了解顯微技術中的剪切力反饋模式,熒光顯微鏡現貨供應

本頁地址：http://m.hn-baiduw.cn/wz/1144.html轉載注明
本站地址：http://m.hn-baiduw.cn/
http://www.xianweijing.org/