本文標題："像面前后不同截面成像質量檢測顯微鏡技術"
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像面前后不同截面成像質量檢測顯微鏡技術
在光學系統成像過程中，把任意物面的光強分布看成由
無數不同強度發光點組成，每一個發光點經過光學系統后
都在像面上形成一個光斑，整個像面的光強分布則是物面
上各發光點形成光斑的疊加結果，而且在等暈成象條件下
代表整個物面的成像質量，這就是認識光學系統成像過程
的所謂基元觀點。
從點基元觀點出發，通過考察一個點光源，即通常所稱
的星點通過系統后，在像面及像面前后不同截面所成衍射
像的光強分布，定性在評定光學系統的成像質量，這就是
星點檢驗法。
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