本文標(biāo)題："對(duì)粒子進(jìn)行識(shí)別測(cè)量收集應(yīng)用那種顯微鏡觀察"

發(fā)布者：YIYI ------ 分類: 站內(nèi)動(dòng)態(tài) ------ 人瀏覽過 -----時(shí)間：2015-10-22 10:16:14

對(duì)粒子進(jìn)行識(shí)別測(cè)量收集應(yīng)用那種顯微鏡觀察

    如果要進(jìn)行瞬時(shí)測(cè)員,重力法和撞擊法都是不合適的。然而
要測(cè)定粒子大小，并對(duì)粒子進(jìn)行識(shí)別，這些收集方法也是可以的。
用重力法收集粒子試樣可以使分析人員了解有多少粒子，而且是
什么樣的粒子落在產(chǎn)品表面。但是所得數(shù)字不是周圍空間存在的
粒子，因?yàn)椋挥写罅Ｗ?大子5微米直徑)在一定時(shí)間內(nèi)才能降落
到產(chǎn)品表面。
    收集試樣所需時(shí)間一般是兩小時(shí)到數(shù)天，它根據(jù)工作環(huán)境的潔
凈度來決定。重力沉降法傾向于收集那些山人或工藝過程中產(chǎn)生的
粒子。
    通常，真空碰掩法的取樣時(shí)間比重力法要少。因?yàn)椋谇鍧嵀h(huán)
境中操作人員可以選擇高流速真空泵。大多數(shù)試樣的收集時(shí)間為
四小時(shí)，但如特殊情況，則取樣時(shí)間要長(zhǎng)些。
    若取樣時(shí)間和泵的流速為已知，則可求得空氣中粒子的平均濃度。
如果收集時(shí)能使附聚作用小，還可獲得粒徑的分布狀況，而不會(huì)有
采用重力法時(shí)引入的偏差。應(yīng)當(dāng)注意:這種試樣只是指出環(huán)境狀態(tài)，
而不是產(chǎn)品表面。

后一篇文章：測(cè)定污染物大小和計(jì)算其數(shù)值所用的方法 »
前一篇文章：« 討論制造微電子器件所用的方法儀器及其優(yōu)缺點(diǎn)

tags:微生物,數(shù)碼顯微鏡,病理顯微鏡,光學(xué)顯微鏡,生物顯微鏡,精密儀器,

對(duì)粒子進(jìn)行識(shí)別測(cè)量收集應(yīng)用那種顯微鏡觀察,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

本頁地址：http://m.hn-baiduw.cn/wz/2196.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：http://m.hn-baiduw.cn/
http://www.xianweijing.org/